Работа описывает простой метод облучения образцов диэлектрических композитов на основе эпоксидных смол и алмазных наполнителей, предназначенных для создания клеевых соединений в цепях съема тепла микроэлектронных изделий, эксплуатируемых в полях повышенной радиации. Метод основан на помещении образцов в тело массивной свинцовой мишени в дальнейшем облучаемый интенсивным пучком протонов с энергией 660 МэВ. Накопленная образцами доза, создаваемая первичными и вторичными частицами, оценивается в рамках взаимодополняющих моделей FLUKA и MCNPX с результатами, сравниваемыми между собой, а также с результатами оценки дозы, полученной образцами, по наведенной активности изотопа Na-22 в мониторных алюминиевых фольгах, сопровождающих облучаемые образцы. В качестве анализируемых величин выступает теплопроводность образцов, деградирующая при облучении.