Отдел лицензий и интеллектуальной собственности ОИЯИ сообщает, что 16 октября 2020 года Объединенным институтом ядерных исследований был получен патент на изобретение «Устройство для измерения углов наклона поверхности». Авторами работы являются Будагов Юлиан Арамович и Ляблин Михаил Васильевич.

Поздравляем авторов с получением патента на изобретение!

Подробнее об изобретении

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и касается устройства для измерения углов наклона поверхности. Устройство включает в себя закрепленные на платформе одномодовый стабилизированный лазерный источник, кювету с вязкой диэлектрической жидкостью, расположенную на пути лазерного луча, позиционно-чувствительное фотоприемное устройство с блоком регистрации сигнала, служащие для определения положения лазерного луча отраженного от поверхности жидкости. Кроме того, устройство дополнительно содержит расположенную на пути луча и связанную с платформой плоскопараллельную оптическую пластинку, предназначенную для отражения части лазерного луча, расположенное на платформе второе позиционно-чувствительное фотоприемное устройство с блоком регистрации, служащие для регистрации сигнала углового шумового движения лазерного луча, и блок обработки, служащий для вычитания сигнала углового шумового движения лазерного луча из основного сигнала. Технический результат заключается в повышении чувствительности устройства.